10月28日天津工业大学分析测试中心举行显微技术研讨会，会议由分析测试中心贾辉老师和王志芳老师主持，邀请我校化学工程与技术学院乔志华教授、分析测试中心王志芳老师、蔡司XRM全国应用经理曹春杰、蔡司资深应用专家沙学超、蔡司高级应用专家韩冰做学术报告，我校120余名师生参加了会议。

乔志华教授做了题为《高通量气体分离膜的设计与制备》的报告，介绍了高通量气体分离膜的研究背景、研究进展和研究成果等方面，并详细介绍了如何用显微镜技术对分离膜进行表征；王志芳老师在题为《FIB实际使用案例和技术要领》的报告中对现有的蔡司显微技术平台的仪器进行了简单介绍，对其尤为擅长的离子束电子束双束显微镜（FIB）从原理、功能到我校常见的纤维、膜、磁性样品等的表征都做了较为详细的讲解。

乔志华教授《高通量气体分离膜的设计与制备》部分内容

王志芳老师《高通量气体分离膜的设计与制备》的部分内容

    三位蔡司专家结合显微技术中心现有的仪器，分别作了题为《X射线显微镜技术最新应用进展及应用》、《蔡司在显微组织结构表征领域的整体解决方案介绍》、《激光共聚焦技术最新进展与应用》的报告，结合蔡司仪器的功能特点，对前来参加研讨会的师生进行了蔡司最新的技术实例和应用实例分享。

曹春杰工程师《X射线显微镜技术最新应用进展及应用》报告

沙学超工程师《蔡司在显微组织结构表征领域的整体解决方案介绍》报告

韩冰工程师《激光共聚焦技术最新进展与应用》的报告

    与会师生与专家就报告内容及相关仪器辅助科研工作的具体技术问题进行了交流，报告会现场气氛活跃，对同学们进一步开展创新研究、运用相关尖端仪器有重要促进作用。分析测试中心副主任武春瑞对各位专家的报告、科研心得与技术分享表示感谢，代表分析测试中心表态，未来将进一步收集、分析我校科研需求、打造系列化专业化专家论坛，搭建专家与同学们学术与技术交流的平台，让分析测试中心更好的服务于我校的科研工作与人才培养。