各位同学，分析测试中心新购置的德国卡尔蔡司公司的离子束电子束显微镜，包括场发射扫描电镜（SEM）和聚焦离子束系统（FIB），即除了可以正常完成扫描电镜的表面观察，还可以从纳米或微米尺度对样品进行加工，此仪器操作方式为测试老师专职测试，现在可以正常使用预约，本周仍有空余机时。

目前开放主要功能：

1.材料微纳加工，如截面切割与观察（例如，对样品进行截面切割后观察内部结构；对于纤维状试样可以横切也可以纵切后观察，最近针对学校老师们的送样情况进行了条件摸索，如聚丙烯腈,聚偏氟乙烯等高分子膜材料可以切割观察截面）；

2.样品微观刻蚀与沉积；

3.TEM样品制备；

4.SEM电镜各种材料形貌观察，如高分子材料、有机聚合物、金属、半导体、陶瓷等无磁性材料。（不单独开放SEM基础测试）

如有想要进一步了解的同学，请联系王志芳老师来交流制样方法和注意事项。