应部分研究生要求，分析测试中心将于2021年11月4日（周四）下午14点至16点，开展X射线光电子能谱（XPS）、场发射高分辨透射电子显微镜（HRTEM）的专题培训。培训主要针对在校研究生，具体安排如下：

表1  讲座培训安排

此次拟培训的XPS可实现对致密金属材料和有机材料进行表面丰富的物理化学定性分析；对有机化合物和聚合物进行定性和定量分析；对金属合金、半导体氧化物、陶瓷、无机化合物和配合物等无机材料进行定量定性分析。XPS所用的X光电子能谱法是一种表面分析方法，信息深度大概在3-5nm。XPS的测试样品一般为在超高真空下能保持稳定的无腐蚀性、无磁性、无挥发性的固态样品（片状、块状或粉末），测试开始前需要进行预置备。XPS在进行表面分析的同时，如果能配合离子枪作为剥离手段，还可以实现对样品的深度分析。

HRTEM为日本电子的JEM-F200电镜，使用冷场发射电子枪，其中TEM模式可以观测到材料的微观形貌、晶体结构、缺陷、晶向等等，STEM模式对于晶面间距大一点的样品，可以观测到原子像。电镜配有EDS、能量损失谱、三维重构、冷冻样品杆、加热样品杆，可进行原位等方面的测试。该仪器可观测0.1nm以上范围内的形貌、结构、元素成分分析等，可对金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等材料进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒晶向及成分分析。仪器可实现利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.5nm尺度的物质进行结构和成分分析，因而特别适用于普通透射电镜难以分析的微细析出相，界面等极小区域内成分、结构的定性定量研究。

欢迎校内研究生免费参加此次专题培训。为有序地安排各项培训事宜，请有意参加人员在2021年10月29日前将参加者姓名、导师姓名、有无XPS及HRTEM相关测试经验等信息，在“天津工大分析测试交流群”（一群QQ群号205563807，二群QQ群号948166355）中接龙，欢迎没有进群的研究生申请加入交流群。

培训时间地点：根据报名人数另行通知。

分析测试中心

2021年10月28日