电镜分辨率:1.5nm @ 15kV;2.0nm @ 10kV;3.0nm @ 5kV
加速电压:500V~30kV
束流大小:最大20nA
电镜物镜模式:磁浸入模式UHR、无磁场模式HR
电镜检测器:高真空二次电子检测器(SE)、极靴内二次电子检测器(TLD)、极靴内背散射电子检测器(TLD-B)、四分固体式背散射电子探测器(BSE)、样品室红外CCD探测器
S4800型冷场发射扫描电镜,采用专利的EXB技术,可以分别收集和分离单纯二次电子、混合二次电子及背散射电子信号。配有特征X射线能谱仪,可在观察形貌的同时进行样品成分分析。新型透镜系统,提高了高分辨率模式、高束流模式、大工作距离模式等多种工作模式,使其能够精确清晰地捕捉精彩的瞬间!
特征X射线能谱仪
EDAX Apollo XL型号,30 mm2 SDD芯片技术,超薄窗口型和无窗口型探测器均有优秀的轻元素测试性能,能量分辨率优于129 eV,放大器时间常数从120 ns 到7.65 s 可选,便于获得最佳采集效果